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Xplore TEM是專門為120kV和200kV 透射電鏡（TEM）的常規應用而設計的元素分析系統。使用新的 80mm2 傳感器和聚合物薄窗口及低噪音電子元器件 , 為用戶提供快速和準確的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立體角
從Be到Cf的元素檢測
可在200,000cps的計數率下進行定量分析
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