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總部位于德國柏林科技園區的SENTECH儀器公司，已成為光伏生產設備世界市場之 一.我們是一家快速發展的中型公司，擁有60多名員工，他們是我們有價值的資產我們団 隊的每個成員都為公司的成功做出貢獻，我們總是在尋找與我們志同道合的新工作伙伴，我 們誠摯期待您的加入。

薄膜測量儀器

反射膜厚儀RM 1000和RM 2000

擴展折射率指數測量極限我們的反射儀的特點是通過樣品的高度和傾斜調整進行精確的單光束反射率測量，光學布局的高光導允許對n和kffl 行重復測量，對粗糙表面進行測量以及對非常薄的薄膜進行厚度測量.

紫外-近紅外光譜葩圍

RM 1000 430 nm-930 nm

RM 2000 200 nm - 930 nm

高分辨率自動掃描

反射儀RM 1000和RM 2000可以選配x-y自動掃描臺和自動掃描軟件、用于小光斑尺寸的物鏡和攝像機。

綜合薄膜測量軟件FTPadv Expert

寬光譜范圍和高光譜精度

SENresearch4.0光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。 傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用以分析厚度高達200|jm的厚膜。

沒有光學器件運動（步進掃描分析器原理）

為了獲得測量結果，在數據采集過程中沒有光學器件運動。步進掃描分析器（SSA）原理是SENrsearch4.0光譜橢偏儀的一個獨特特性。

雙補償器2C全穆勒矩陣測量

通過創新的雙補償器2C設計擴展了步進掃描分析器SSAJ京理，允許測量全穆勒矩陣。該設計是可現場升 級和實

現成本效益的附件。

SpectraRay/4綜合橢偏儀軟件

SpectraRay/4是用于先進材料分析的全功能軟件包，SpectraRay/4包括用于與引導圖形用戶界面進 行研究的交互

模式和用于常規應用的配方模式.

激光橢偏儀SE400adv

亞埃精度穩定的氣氤激光器保證了 0.1埃精度的超薄單層薄膜厚度測量。

擴展激光欄偏儀的極限

性能優異的多角度手動角度計和角度精度優越的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折 射率、消光系數和膜厚.

高速測量

我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測量速度使得用戶可以監控單層薄膜的生長和終點檢 測，或者做樣品均勻性的自動掃描。

綜合薄膜測量軟件FTPadvExp

測量n， k，和膜厚

該軟件包是為R（入）和T（入）測

量的高級分析而設計的。

查層膜分析

可以測量單個薄膜和層畳膜的每一層的薄膜厚度和折射率.

大量色散模型

集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學特性。利用快速擬合算法，通過改變模型參數

將計算得到的光譜調整到實測光譜。