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基于Phasics**的四波橫向剪切干涉技術和焦平面非冷卻相機的SID4 LWIR工作范圍在長波紅外8-14μm，結構緊湊，易于集成到光學平臺用于長波紅外激光束和光學元件測試。
SID4-Swir 光學器件測量激光束測試
特點：
由于其獨特的**技術技術，Phasics的SID4-LWIR波前傳感器具備以下特點：
1.高分辨率：160x108測量點
2.高發(fā)散光測量：無需轉接透鏡
3.消色差：8-14μm
4.緊湊：易于集成
應用：
元器件測試：SID4 LWIR波前分析儀實時測量光學元件MTF和畸變。適用于熱成像目標，安防，安防視覺。無色差，易于集成。
激光束測試：SID4 LWIR能用于測試光束特性（M2、Strehl比、強度分布，光束參數(shù)…）。也適用于遠紅外光束測量如CO2激光器、紅外OPO激光源…
SID4-Lwir產品參數(shù)：
波長范圍 | 8-14μm |
通光孔徑 | 16 x 12 mm2 |
空間分辨率 | 100 μm |
采樣點（相位/強度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相對靈敏度 | 75nm RMS |
相位精度 | 25nm RMS |
動態(tài)范圍 | ~ |
采樣頻率 | 24 fps |
實時分析頻率 | 10 fps (full resolution) |
數(shù)據(jù)接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 96 x 110 x 90 mm |
重量 | 850g |
暫無數(shù)據(jù)！
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