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產品簡介

HCP421V-PM可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。

功能特點

迷你溫控探針臺，可用于 顯微鏡/光譜儀

-190℃~400℃ 可編程控溫（負溫需配液氮制冷系統）

28 mm x 30 mm加熱區

可抽真空的腔體，亦可充入保護氣體使用

BNC接口四探針，手動點針 *可選三同軸接口，用于pA級測試

可選增設腔內接線柱（樣品接電引線）

可從溫控器或電腦軟件控制，可提供軟件SDK

*可做定制或改動，詳詢上海恒商

溫控參數

溫度范圍

-190℃ ~ 400℃（負溫需配液氮制冷系統）

傳感器/溫控方式

100Ω鉑RTD / PID控制（含LVDC降噪電源）

**加熱/制冷速度

+80℃/min （100℃時），-50℃/min （100℃時）

*小加熱/制冷速度

±0.01℃/min

溫度分辨率

0.01℃

溫度穩定性

±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）

軟件功能

可設溫控速率，可設溫控程序，可記錄溫控曲線

電學參數

探針

默認為錸鎢材質的彎針探針 *可選其他種類探針

探針座

杠桿式探針支架，點針力度更大，電接觸性更好

點針

手動點針，每個探針座都可點到樣品區上任意位置

探針接口

默認為BNC接頭，可選三同軸接口

*可增設腔內接線柱（樣品接電引線）

樣品臺面電位

默認為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口

非磁性改造

臺體可改用非磁性材質制造，用于變溫霍爾效應探針測試

光學參數

適用光路

反射光路 *另有透射光路型號

窗片

可拆卸與更替的窗片

*小物鏡工作距離

8.5 mm *截面圖中WD

透光孔

臺面默認無通光孔，可增設通光孔以支持透射光路

上蓋窗片觀察

窗片范圍φ38mm，**視角±60.7° *截面圖中θ1

負溫下窗片除霜

吹氣除霜管路

結構參數

加熱區/樣品區

28 mm x 30 mm

樣品腔高

6.3 mm *樣品**厚度由探針決定

放樣

打開上蓋后置入樣品再點針，關上蓋后無法移動探針

氣氛控制

可抽真空的腔體，亦可充入保護氣體使用

外殼冷卻

可通循環水，以維持外殼溫度在常溫附近

安裝方式

水平安裝 或 垂直安裝

臺體尺寸/重量

180 mm x 130 mm x 27 mm