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單波長色散X射線熒光光譜儀
Monochromatic Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）
特點：
靈敏：高選擇性檢測硫元素，檢測限達到0.4PPM，是針對硫元素*靈敏的X射線熒光光譜儀
穩(wěn)定：XFS（X-Ray Fixed System）**技術，光路工廠精密調諧后，不再產生位移或偏差，**限度的保證了儀器的長期穩(wěn)定性
快速：單個樣品準備時間小于10秒鐘；單個樣品分析時間*長300秒；開機10分鐘內即可測試樣品
經濟：單個樣品消耗小于4元/樣品，無氣體、溶劑等消耗
方便：使用ESP：Easy Sample Prepare裝置，使得樣品杯與膜成型變得簡單；長時間使用無硬件更換；無需經常校正標準曲線
原理：X射線光管出射譜是由連續(xù)譜線和特征譜線組成，初級全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線光管出射譜中的高強度的特征X射線，從而入射到樣品的X射線具有極好的單色性，因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產生的熒光X射線（線光譜）和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外，不存在連續(xù)線散射背景。單色入射Cr:Kα線激發(fā)樣品中的硫Kα線，硫Kα線進一步被大面積全聚焦雙曲面彎晶收集，聚焦到探測器中檢出，從而實現對樣品中硫元素高選擇性和高靈敏度檢測。
*低檢出限LLD：0.4ppm
測量范圍：0.4ppm--5%
測量時間：60秒--300秒
重復性：Sn-1≤0.2ppm（2ppm），0.5ppm（10ppm），2.5ppm（50ppm）
北京安科慧生科技有限公司出品
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