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美國Hinds成立于1971年，憑借其**的PEM（光彈變調制）技術研發了高穩定的應力雙折射測量系統，具有目前世界上**的精度，可用于測量以下樣品的雙折射(快慢軸相位差/延遲度和快軸角度).
?光學器件
?液晶玻璃基板， 液晶濾光片
?激光晶體
?DVDs
?光刻機部件， 如氟化鈣窗口， 融石英光學器件，光掩膜板等
?相機鏡頭
?太陽能硅片，半導體晶圓
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