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該測(cè)試系統(tǒng)為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，具有測(cè)試快速準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、可靠性高度特點(diǎn)，能實(shí)現(xiàn)了200-250nm范圍內(nèi)**光譜響應(yīng)度、量子效率、歸一化探測(cè)率、信號(hào)電壓、噪聲電壓、響應(yīng)時(shí)間等參數(shù)隨波長(zhǎng)、頻率、外加偏壓的變化曲線的全自動(dòng)測(cè)試。

技術(shù)指標(biāo)

• 光譜范圍：200-2500nm（可根據(jù)實(shí)際需要選擇）
• 光電源電流漂移：< 0.04%/h
• 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±02nm
• 光譜分辨率：± 0.1nm
• 光譜帶寬：0.2-10nm 可調(diào)
• 光斑：15mm，各點(diǎn)不均勻性<1%
• 偏壓源：電壓：200uV-505V；電流：20fA-200mA
• 系統(tǒng)噪聲：< 2mV
• 系統(tǒng)重復(fù)性：< 2%
• 激光監(jiān)視光路：CCD 圖像監(jiān)視，可對(duì)極小光電探測(cè)器進(jìn)行精確定位。