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MaxMile的無汞探測器可廣泛用于各種有電子特性的半導體樣品。通過在材料中即時形成肖特基或mos器件來實現探測功能，不需要耗時的金屬化工藝。相比傳統的汞探測器，無汞探測器沒有汞累積中毒問題，并可實現更復雜的測量。
無汞探測器具有快速、經濟、無損于材料等特性。它們是研發和生產的理想工具，如過程監控，質量控制和快速反饋。
接觸方式：單接觸、雙接觸、混合接觸；
接觸面積:0.8-2 mm，可定制；
探頭控制：手動、自動和映射；
工作臺直徑：2"(50mm)-12"(300mm)。
接口：接口線長度可任意定制。
單接觸無汞電探針通過與材料基體接觸進行測量，而雙接觸探針測量則通過接觸帶有半絕緣體或絕緣體基底的半導體一側的兩個點進行測量。混合接觸測量包括單接觸測量和雙接觸測量。
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