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TE 67 微處理器控制的銷盤試驗(yàn)機(jī)
設(shè)備介紹:
TE 67微處理器控制的銷盤試驗(yàn)機(jī)可用于球盤或銷盤試驗(yàn)，試樣間有多種接觸類型。該試驗(yàn)機(jī)的主要特色是銷和盤的夾具的剛性很大，適用于盤盤接觸測試。另外，與其他采用固定載荷和負(fù)載橫梁的球盤試驗(yàn)機(jī)相比，該機(jī)型的氣動(dòng)加載系統(tǒng)大大減少了高負(fù)荷情況下的慣性載荷。需要指出的是，慣性載荷對(duì)測得的摩擦磨損數(shù)據(jù)有著較大的影響。
該試驗(yàn)機(jī)的控制單元包括SLIM 2000串行接口模塊和數(shù)據(jù)采集軟件，可自動(dòng)控制載荷、速度、溫度和測試時(shí)間，可設(shè)置報(bào)警水平，并且數(shù)據(jù)記錄方式靈活。該試驗(yàn)機(jī)的**優(yōu)勢為可在線測量試樣的磨損深度，便于嚴(yán)格篩選材料。
根據(jù)所選附件，試驗(yàn)范圍也可相應(yīng)擴(kuò)展，比如可進(jìn)行空氣加熱或潤滑劑密閉條件下的測試。另外，也可選擇往復(fù)盤配件、線接觸配件以及活塞環(huán)/汽缸套或環(huán)面（止推環(huán)）試樣配件等，進(jìn)行相應(yīng)的試驗(yàn)。
總之，該試驗(yàn)機(jī)可用于進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)ASTM G 99、 DIN 50324 和ISO/DIS 7148-2所指出的銷盤或球盤試驗(yàn)，也可用于其它在到導(dǎo)引中列出的試驗(yàn)以及用于ASTM F 732中的往復(fù)式試驗(yàn)。
技術(shù)參數(shù):
| 轉(zhuǎn)速 | 30 到 1，000 rpm |
| 60 到 2，000 rpm | |
| 滑動(dòng)速度 | 0.05 m/s 到 4 m/s |
| 0.1 到 8 m/s | |
| 測試半徑 | 0 到 35 mm |
| 氣動(dòng)加載單元 | |
| 加載范圍 | 25 到 1000 N |
| 循環(huán)加載類型 | 正弦波或三角波 |
| 循環(huán)加載速率 | **1 Hz |
| 靜載荷加載單元 | |
| 負(fù)載范圍 | 5 到 100 N |
| 摩擦力 | 0 到 50 N |
| 0 到 1，000 N | |
| 磨損測量 | LVDT 0 到 2.5 mm |
| 分辨率 | 好于1 µm |
| 接觸電勢 | 40 mV 直流信號(hào) |
| 溫度傳感器 | K型熱電偶 |
| 盤試樣 | 直徑75 mm x 8 mm厚 |
| 銷試樣 | 直徑8 mm x 35 到 68 mm 長 |
| 球試樣 | 直徑6 mm |
暫無數(shù)據(jù)！
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