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WLI Infra干涉儀

德國BMT WLI Infra干涉儀是用于硅薄膜的厚度測量設(shè)備。儀器適用于實驗室、車間和生產(chǎn)線上的質(zhì)量管理。測量頭提供**的重復(fù)性，設(shè)計堅固緊湊、免維護(hù)，適用于在線測量。

產(chǎn)品特點：

MEMS、硅梁、透明薄材料的非接觸高精度厚度測量；

納米級分辨率；

手動或自動測量步驟設(shè)計，簡單易用；

不受溫度變化和熱效應(yīng)的影響；

**的重復(fù)性；

可配備表面輪廓測量。

技術(shù)參數(shù)：

厚度分辨率（nm） <1

探針大小 （μm） 約150（可定制）

厚度范圍 （μm） 0.1-600

儀器尺寸 （mm） 320x320x380

重量 （kg） 120

晶圓夾具 定制，可達(dá)30cm

全自動測量

標(biāo)準(zhǔn)或定制的軟件包