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型號：美國FEI Quattro S
功能：用于材料表面、斷面形貌觀察，微區成分定性定量分析。
技術參數：
﹡分辨率：1.0nm（30KV, SE）
﹡附件：X射線能譜儀（EDS）、電子背散射衍射儀（EBSD）
﹡放大倍數：300萬倍
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