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面議型號
PSS Nicomp N3000品牌
美國PSS產地
美國樣本
暫無誤差率:
分辨率:
重現性:
±99%儀器原理:
動態光散射分散方式:
測量時間:
1-10min測量范圍:
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Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀 專為復雜體系提供高精度粒度解析方案
儀器型號:PSS Nicomp N3000 Plus
工作原理:動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)
檢測范圍: 0.3nm-10.0μm
Nicomp N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來,采用動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優勢。
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