參考價(jià)格
面議型號(hào)
MRS-HI410品牌
產(chǎn)地
蘇州樣本
暫無分散方式：
-測(cè)量時(shí)間：
-測(cè)量范圍：
-誤差率：
-分辨率：
-重現(xiàn)性：
-儀器原理：
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鎂伽MRS-HI410系列六面外觀檢測(cè)設(shè)備，采用模塊化的設(shè)計(jì)，適用于檢測(cè)多種不同電子元器件，如電阻、電容、電感、半導(dǎo)體芯片、LED等。檢測(cè)項(xiàng)目包括:方向、印章、混料、異物、溢膠、氣泡、劃痕、劃傷、露銅、引腳變形等外觀缺陷和尺寸量測(cè)。
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