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MEMS探針主要應用于集成電路電路的芯片的性能檢測。
電沉積工藝可以根據探針的不同用途,制作出不同特性的半導體檢測探針,例如,某些芯片需要高導電性的探針,我們可以通過改變材質,改變表面材質特性來制作出高導電性的探針,也可以根據要求,制作出高彈性,高抗振動疲勞的探針,高接觸性以減小到*小的信號減,讓信號傳遞更完整。
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