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CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測設備品牌
中科慧遠產地
河南樣本
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CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測設備
CSU030D設備為中科慧遠針對以SiC為代表的化合物半導體晶片加工過程中外觀類缺陷進行宏觀檢測的缺陷檢測設備。
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