2025IPIE上海國際高端粉體裝備與科學儀器展覽會將于10月29-31日在上海跨國采購會展中心舉辦！IPIE2025是由北京粉體技術協會與柏德英思展覽（上海）有限公司聯合主辦，并與上海市浦東新區新材料協會、中國粉體網達成戰略合作，共同打造的粉體裝備與科學儀器行業應用領域的一站式商貿采購與交流平臺。
展位號：H03
澤攸科技有限公司是一家具有完全自主知識產權的先進裝備制造公司，擁有精通機械、光學、超高真空、電子技術、 微納加工技術、軟件開發技術的專業團隊，于20世紀90年代便開啟電子顯微鏡及相關原位附件的研發，致力于成為中國領先的半導體加工與材料表征測量設備生產商。
部分產品介紹
1、ZEM系列掃描電鏡
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡融合了多項自主創新核心技術，兼具優秀成像質量和便攜性能，滿足廣泛應用需求。作為國內高端化、系列化的臺式掃描電鏡，ZEM系列在成像分辨率、操作便利性、系統集成度等指標上均達到了國際先進水平。ZEM系列產品集成度高，配置靈活可選，操作方便，學習簡單，非專業人士也可快速上手，配套軟件貫穿整個工作流程，從樣品導入、參數設置到成像分析，一站式高效便捷。目前，ZEM系列已在新材料、新能源、生物醫藥、半導體等諸多領域展現出強大的分析實力，幫助科研人員直觀觀測微納世界奧秘。憑借出色的性價比，ZEM系列臺掃已然成為高校、研究所和企業廣泛采用的首選之一。
2、JS系列臺階儀
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產高精度表面測量設備的代表，憑借其創新的技術架構、靈活的應用場景及可靠的測量性能，可以對微納結構進行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量，在高校、研究實驗室和研究所、半導體和化合物半導體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機電、觸摸屏、汽車、醫療設備等行業領域有著廣泛應用。JS系列臺階儀通過金剛石探針與樣品表面的接觸掃描，將微觀輪廓的垂直位移轉化為電信號，結合高靈敏度傳感器與信號處理算法，實現納米級精度的表面特征捕捉。其核心技術亮點在于超微壓力恒定控制系統，通過精密調節探針與樣品間的接觸壓力，既避免了對軟質材料的損傷，又確保了測量過程的穩定性。此外，設備搭載的攝像頭實時成像系統，可同步觀察樣品區域與探針尖端的位置關系，輔助用戶精確定位特征結構，顯著提升測量效率。作為國產科學儀器的突破性成果，JS系列臺階儀打破了國外品牌在高端表面測量設備領域的長期壟斷，憑借高性價比與本地化服務優勢，成為國內高校、科研機構及制造企業的優選設備。
3、ZEL304G電子束光刻機
澤攸科技ZEL304G電子束光刻機（EBL）是一款高性能、高精度的光刻設備，專為半導體晶圓的高速、高分辨率光刻需求設計。該系統采用先進的場發射電子槍，結合一體化的高速圖形發生系統，確保光刻質量優異且效率卓越。標配的高精度激光干涉樣品臺能夠滿足大行程高精度拼接和套刻需求，為復雜實驗和生產任務提供可靠支持。其核心優勢在于卓越的成像能力和靈活的掃描模式，可實現多種矢量掃描方式，包括順序掃描、循環掃描和螺旋型掃描，同時支持多圖層自動曝光與場校準功能，滿足多樣化的工藝要求。此外，設備兼容多種圖形文件格式，并可通過選配附件（如UPS不間斷電源和主動減震臺）進一步提升運行穩定性。無論是新材料研究、前沿物理探索，還是半導體、微電子、光子學及量子技術領域的應用，ZEL304G均表現出色，是科研與工程領域的理想選擇。
2025IPIE上海國際高端粉體裝備與科學儀器展覽會將于10.29-31在上海跨國采購會展中心舉行，歡迎各位行業人士到展會現場交流合作！
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