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精微高博2011粉體年會載譽歸來

精微高博2011粉體年會載譽歸來
精微高博  2011-10-21  |  閱讀：2728

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2011中國粉體工業發展年會暨第八屆顆粒測試學術年會10月12日在成都九龍賓館隆重舉行。會上，精微高博董事長鐘家祥教授做了“堅持自主創新  在超細粉體表面特性測試上趕超世界先進水平”的精彩報告。

 
 

 

之后，“2011中國粉體工業發展年會優秀產品獎”頒獎儀式在成都九龍賓館報告廳舉行。北京精微高博科學技術有限公司的JW-BK高精密微孔分析儀獲得優秀產品獎。

 

獲獎單位代表與頒獎嘉賓合影
 



 

 左圖：JW-BK高精密微孔分析儀

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