濟南微納受邀參加《粒度分析 動態(tài)光散射法》國家標(biāo)準(zhǔn)宣貫會
濟南微納 2013-11-08 | 閱讀：1914
我國在納米材料相關(guān)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)已發(fā)布實施多項，新技術(shù)轉(zhuǎn)化的標(biāo)準(zhǔn)的宣貫工作迫在眉睫，為提高科研技術(shù)人員的研究分析能力，相互交流研究心得，同時為執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)做好充分的準(zhǔn)備，北京粉體技術(shù)協(xié)會、全國顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會、全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會于2013年11月26日在北京國家納米科學(xué)中心聯(lián)合舉辦納米測試標(biāo)準(zhǔn)系列講座。
作為中國顆粒測試技術(shù)的領(lǐng)航者的濟南微納顆粒儀器股份有限公司，被選為系列宣貫的第一講。與會期間我司陳棟章總工將進(jìn)行《粒度分析動態(tài)光散射法》GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008的講座。歡迎業(yè)內(nèi)廣大新老客戶及關(guān)系單位屆時參與此次盛會。濟南微納受邀參加此次會議力驗證評定，是國家權(quán)威部門對微納多年來不懈努力所取得成績的認(rèn)可。濟南微納將不負(fù)所望，秉承自身作為中國顆粒測試技術(shù)的領(lǐng)航者的職責(zé)，為廣大用戶提供優(yōu)異的儀器與滿意的服務(wù)，繼續(xù)為中國粒度測試技術(shù)趕超世界一流水平做出不懈努力。
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