產(chǎn)品概述

Innovate T5型全譜直讀光譜儀采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了日本濱松公司先進(jìn)的CMOS信號(hào)采集元件，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)置火花個(gè)數(shù)，與國(guó)際光譜儀先進(jìn)技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的極低檢出限，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，具有數(shù)據(jù)精確，長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。

應(yīng)用范圍

鑄造、冶金、機(jī)械加工、消防、航空航天、金屬加工、金屬材料質(zhì)量鑒定、新材料開(kāi)發(fā)

主要特點(diǎn)

CCD+CMOS全譜分析技術(shù)

豐富的譜線(xiàn)信息，分析靈敏線(xiàn)更多，保證分析的準(zhǔn)確度；

基于全譜測(cè)量的數(shù)據(jù)，能夠正確區(qū)分背景和譜線(xiàn)，有效提高測(cè)量精度；智能選擇合適的靈敏線(xiàn)，通過(guò)多譜線(xiàn)結(jié)合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)低中高含量段的檢測(cè)需求；

基于全譜測(cè)量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線(xiàn)干擾，實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量；

標(biāo)準(zhǔn)工廠校準(zhǔn)曲線(xiàn)

在分析過(guò)程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性；減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長(zhǎng)校正周期；自動(dòng)完成儀器校正，操作更加簡(jiǎn)便；豐富的譜線(xiàn)信息，分析靈敏線(xiàn)更多，保證分析的準(zhǔn)確度；

獨(dú)特的CMOS檢測(cè)技術(shù)優(yōu)于CCD

CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度；

CMOS相比CCD具有更好的線(xiàn)性度；

CMOS相比CCD具有極高的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測(cè)更準(zhǔn)確。

創(chuàng)新點(diǎn)

**CMOS全譜接收技術(shù)；

人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止；

一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)；

可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù)；

可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體；

波長(zhǎng)范圍140-680nm，可滿(mǎn)足更多元素的分析要求。

技術(shù)參數(shù)