看了膜厚測試儀的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
美國 Filmetrics
美國Filmetrics公司出品的F20 膜厚測量儀，可快速簡便的測量透光薄膜的光學參數(n，k值)，可在幾秒內測量并分析薄膜的表層和底層的反射光譜得到膜厚，折射率參數。
軟件以及USB接口可輕易的將儀器與Window系統的電腦連接。軟件的數據庫預存100種以上材料的基本信息，利用這些已存信息可以測量多層結構，用戶還可以通過擬合測量將新材料的光學系數存入系統以備今后應用。
測量條件：
薄膜：平整，半透明，吸光薄膜。例如：SiO2 SiNX DLC、光刻膠、多晶硅無定形硅，硅片；
基底層：平整，反射基底。如需測量光學系數，則需要平整鏡面反射基底，如果基片是透光的，基片背面需要做反光處理?？捎没桌纾汗杵?玻璃 鋁、GaAs 鋼 聚碳酸脂、聚合物薄膜
暫無數據！
膜厚測試儀的工作原理介紹？膜厚測試儀的使用方法？膜厚測試儀多少錢一臺？膜厚測試儀使用的注意事項膜厚測試儀的說明書有嗎？膜厚測試儀的操作規程有嗎？膜厚測試儀的報價含票含運費嗎？膜厚測試儀有現貨嗎？膜厚測試儀包安裝嗎？
手機版：
工商已核實
