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用途:
該系列儀器適用于檢測PCB內、外層蝕刻后(上綠油前)線路的上幅及下幅寬度,也可檢測線間距離、孔到邊線距離,以及圓孔、盲孔和弧的直徑等;并適用于IC晶片、薄膜和LCD等線寬線距的測量。
特點:
1、精度:采用可精密調焦裝置,以及圖像處理、自動尋邊和亞像素算法等技術; 2、高效:
①紅光LED定位;
②自動尋邊技術;
③具備SPC統計分析功能。
技術參數:
項目 | XK25 | |
精度 | ①測量精度 | ±1μm |
②分辨率 | 0.4~2.7μm/pixel | |
③總放大倍率 | 70X~450X | |
④光學放大倍率 | 1.4~9×連續可調 | |
對象 | ①板寬 | ≤760mm |
②視野范圍 | 0.53mm×0.4mm~3.3mm×2.5mm | |
③線寬 | 20-1200μm | |
儀器外形尺寸(不含電腦) XK25 | 960mmx780mmx1280mm | |
重量(不含電腦) | 145Kg | |
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