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OpenLight 科研級晶圓缺陷檢測平臺
OpenLight 科研級晶圓缺陷檢測平臺

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型號

OpenLight 科研級晶圓缺陷檢測平臺

品牌

清軟微視

產地

浙江

樣本

暫無
清軟微視(杭州)科技有限公司

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OpenLight 是面向高校和科研院所,應用于裸片、晶圓、芯片、器件等半導體各制程段產品的顯微觀測,是 AOI 算法、工藝驗證、光學實驗等應用的研發利器
OpenLight 采用自主設計的超高速、大視野、高解析度的成像系統,集合無限遠光學系統主鏡筒、大功率全視野均勻照明系統、明場/暗場/DIC 多觀察方式、實時/擬合對焦系統等部分,提供穩定顯微成像方案;運動系統使用大理石基臺配合獨立隔振器,保證高速運動下穩定,消除對成像及檢測的干擾



主要技術參數:

項目內容
晶圓尺寸4" / 6" / 8" / 12"
檢測相機線陣:4k 128 線 TDI
Review 相機面陣:彩色 1200 萬像素
鏡頭2X / 5X / 10X / 20X
照明方式高亮點光源反射式照明
對焦方式硬件實時主動對焦
運動行程X軸/Y軸/Z軸:350/400/50mm
整體尺寸1300mm * 900mm * 1600mm


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產品質量

10分

售后服務

10分

易用性

10分

性價比

10分
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