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缺陷檢測

推薦SiC檢測設備破“卡脖子”難題,多維度領跑國際——訪寧波蘭辰光電有限公司總經理兼技術總監俞寶清

中國粉體網訊 2025年8月21日,由中國粉體網主辦的“第三代半導體SiC晶體生長及晶圓加工技術研討會”在蘇州·白金漢爵大酒店成功召開!大會期間,中國粉體網記者有幸邀請到多位專家、企業界代表做客我們的“對話”欄目暢談碳化硅半[更多]

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