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產品介紹
BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

基本性能指標
粒徑檢測
| 原理 | 動態光散射技術 |
粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
樣品量 | 3 μL – 1 mL |
檢測角度 | 90 ° + 11.2° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta電位測試
| 原理 | 相位分析光散射技術 |
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | >±20 μm.cm/V.s |
電導率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – 120 μm |
分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
| 頻率范圍 | 0.2 – 1.3 x 107 rad/s |
測試能力 | 均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量 |
折光率和粘度測試
| 粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范圍 | 1.3-1.6 |
趨勢測試
| 時間和溫度 |
系統參數
| 溫控范圍 | -15°C - 110°C,精度±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
標準激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器, 671 nm |
相關器 | ≥25 ns采樣,≤ 4000通道,1011動態線性范圍 |
檢測器 | APD (高性能雪崩光電二極管) |
光強控制 | 0.0001% - 100%,手動或者自動 |
軟件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測參數
●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
●分子量
●分布系數 PD.I
●擴散系數 D
●流體力學直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測技術
●動態光散射
●電泳光散射
●相位分析光散射
●靜態光散射
相關技術

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企業名稱
丹東百特儀器有限公司企業類型
有限責任公司(自然人投資或控股)信用代碼
91210600726837619A法人代表
董青云注冊地址
丹東臨港產業園區金泉工業區甘泉路9號成立日期
2001-02-22注冊資本
3,000萬(元)有效期限
2001-02-22 至 2050-02-22
經營范圍
儀器儀表的制造、銷售、維修服務、技術服務、軟件開發及銷售、電力技術研發及技術服務、會議及展覽服務、設備租賃、自有房屋租賃;經營本企業自產產品及技術的出口業務和本企業所需的機械設備、零配件、原輔材料及技術的進口業務,但國家限定公司經營或禁止進出口的商品及技術除外。(依法須經批準的項目,經相關部門批準后方可開展經營活動。)
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