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粒度分布分析儀

上海奧法美嘉生物科技有限公司 2017-06-22 | 閱讀：2337

Nicomp 380 激光粒度電位檢測儀

基本概述：

Nicomp 380 DLS是納米粒徑分析儀器，采用現在先進的動態光散射原理，利用專利的Nicomp多峰算法可以很準確的分析比較復雜多組分混合樣品。為實驗室的研究提供最好的分析技術。測試范圍：0.3 nm – 10μm。

產品介紹：

Nicomp 380 DLS 采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3 nm- 10μm。粒度分析復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有專利技術的Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有獨特優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品無可比擬的。

激光粒度電位檢測儀工作原理：

動態光散射法(DLS)，有時稱為準彈性光散射法（QELS），是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用最新技術，粒度可小于1nm。動態光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。

激光粒度電位檢測儀 儀器參數：

粒徑測量范圍	粒度分析：0.3 nm - 10 μm
分析方法	粒度分析：動態光散射，Gaussian 單峰算法和 NiComp 無約束自由擬合多峰算法
pH值范圍	2 - 12
溫度范圍	0℃ - 90 ℃
檢測角度（可選）	粒度分析：90°或多角度（10°- 175°，可選配）
高濃度樣品背散射	175°背散射
可用溶劑	水和絕大多數有機溶劑
樣品池	4 mL（標準，石英玻璃或有機玻璃）； 500μL（高透光率微量樣品池）
分析軟件	Windows 運行環境，符合 21 CFR Part 11 規范分析軟件
電壓	220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz
外形尺寸	56 cm * 41 cm * 24cm
重量	約26kg（與配置有關）

激光粒度電位檢測儀 配件：

大功率激光二極管	PSS使用一系列大功率激光二極管來滿足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便從小粒子出貨的足夠的入射光。 15mW, 35mW, 50mW, 100mW –波長為635nm 的紅色二極管。 20 mW 50 mW 和 100 mW 波長為 514.4nm的綠色二極管。
雪崩光電二極管檢測器（APD Detector）	提供比普通光電倍增管(PMT)高20倍的靈敏度。
Zeta 電位模塊	Zeta電位是確定交替系統穩定性的重要參數，決定粒子之間靜電排斥力大小，從未影響粒子間的聚集作用及分散系的穩定。該模塊使用電泳光散射（ELS）技術，通過測量帶點粒子在外加電場中的移動速度，即電泳遷移率、推算出Zeta電位，實現了粒子的粒徑與Zeta電位，實現了粒子的粒徑與Zeta電位測定的同機操作。
自動稀釋系統模塊	將初始濃度較高的樣本自動稀釋至可檢測的的濃度，可稀釋初始固含量為50%的原始樣品，本模塊收專利保護，其可免除人工稀釋樣品帶來的外界環境的干擾和數據上的誤差，此技術被用于批量進樣和在線檢測的過程中。
多角度檢測系統模塊	提供多角度的檢測能力。使用高精度的步進電機和針孔光纖技術可對散射光的接收角度進行調整，可為微粒粒徑分布提供可高分辨率的多角度檢測。對高濃度樣品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒徑提供了提供15至175度之間不同角度上散射光的采集和檢測。
自動進樣器	批量自動進樣器能實現最多76個連續樣本的分析而無需操作人員的干預。因此它是一個非常好的質量控制工具，能增大樣品的處理量。大大節省了寶貴的時間。
自動滴定模塊	樣品的濃度及PH值是Zeta電位的重要參數，搭配瑞士萬通的滴定儀進行檢測，真正實現了自動滴定，自動調節PH值，自動檢測Zeta電位值。免除外界的干擾和數據上的誤差，精確分析出樣品Zeta電位的趨勢。