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我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發(fā)射角度光譜分析系統(tǒng)（OLED光譜分析儀）、載流子遷移率測(cè)量系統(tǒng)、電學(xué)性能評(píng)估系統(tǒng)以及軟件模擬研發(fā)系統(tǒng)，為廣大科研工作者和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供了有力的測(cè)試工具。
主要測(cè)試功能： OLED效率測(cè)量/EQE測(cè)量，Lm/W 和 Cd/A；
發(fā)射角度測(cè)量；
光譜&顏色測(cè)量@發(fā)射角；
CIE xyY測(cè)量；
視角測(cè)量；
IVL(電流—電壓—亮度)測(cè)量；
PL光致發(fā)光和EL電致發(fā)光測(cè)量；
極化測(cè)量；
主要技術(shù)規(guī)格：
角度范圍：-85°~+85°；
光譜范圍：360nm~880nm，分辨率1.2nm;
暫無數(shù)據(jù)！
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